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Pressemitteilungen

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GE Sensing & Inspection Technologies GmbH
PR und Marketing
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05.07.2010 Bis zu 5fach verkürzte Bedienzeit: Neue Computertomographie (CT) Software für voll automatische „click & measure|CT“

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16.06.2010 Gestochen scharfe Livebilder und 10-Sekunden-CT - phoenix|x-ray präsentierte auf der SMT seine neue Detektortechnologie

Als Highlight auf der diesjährigen SMT in Nürnberg präsentierte die Produktlinie phoenix|x-ray von GE Sensing & Inspection Technologies ihren neuen hochdynamischen temperaturstabilisierten DXR Digitaldetektor. Mit bis zu 30 fps (frames per...
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07.04.2010 phoenix|x-ray CT-Systeme: Reproduzierbare dimensionale 3D Messungen mit automatisierter Computertomographie

Auf der Control 2010 präsentiert die Produktlinie phoenix|x-ray von GE Sensing & Inspection Technologies in Halle 3 auf dem Stand 3204 ihre neuesten Hard- und Softwarelösungen für noch schnellere, einfachere und präzisere CT-Messungen....
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09.12.2009 Internationales Anwender-Symposium 2010 für hochauflösende mikro- und nanofocus Computertomographie in Dresden

Die hochauflösende Computertomographie mit Voxelauflösungen im Mikrometer- und Submikrometerbereich erlebt momentan in Forschung und Industrie eine rasante Verbreitung. Es gibt mittlerweile kaum eine Disziplin, in der zerstörungsfreie...
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12.10.2009 Maximale Fehlererkennung durch CAD-basierte hochauflösende µAXI - phoenix|x-ray präsentiert auf der Productronica seine neue x|act -Technologie

Für eine größtmögliche Fehlererkennung bei der automatischen Röntgeninspektion (AXI) bestückter Leiterplatten sind kleine Bildausschnitte mit Mikrometerauflösung, 360° Rotation, bis zu 70° Schrägdurchstrahlung, höchste Anfahrgenauigkeit...
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14.09.2009 Hochauflösende Computer-Tomographie für Fehleranalyse und präzise 3D-Messung

GE Sensing & Inspection Technologies präsentiert auf der FAKUMA 2009 in Halle B2 auf dem Stand 2304 hochauflösende CT-Lösungen seiner Produktlinie phoenix|x-ray. Mit ihnen eröffnen sich ganz neue Dimensionen bei der Prozesskontrolle oder...
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