nanome|x
Der nanome|x ist ein ultra-hochauflösendes nanofocus™-Röntgensystem für die Inspektion hochwertiger Aufbau- und Verbindungstechnik in der Halbleiter- und der SMT-Industrie, mit der Option auf nanoCT-Erweiterung.
Anwendungen u.a. in:
Besondere Ausstattungsmerkmale:
- max. Durchlichtfläche 610 x 560 mm
- Echtzeit Detektorauflösung 2 oder 4 Megapixel
- 24" TFT Monitor bei 2 Megapixel und
- 30" TFT Monitor bei 4 Megapixel Detektorauflösung
- Detailerkennbarkeit <0,3µ (300nm)
- max. Vergrößerung bis zu 25.000x
- max. Röhrenspannung 180kV / 15 W
- automatische Röntgeninspektion von BGA, CSP, QFP, QFN, PTH, Voiding Calculation, Wire Sweep
- 3D Computertomographie (optional)
- wartungsarme, langlebige (offene) nanofocus™-Röhre
- high-power nanofocus™-Röhre
- stufenlose Schrägdurchstrahlung von 0°-70°, Rotation 0°-360°
- integrierte Rauschunterdrückung
- ergonomische Bedieneinheit
- easy-view-Konfiguration: zeigt das Röntgenbild der Probe so, wie sie der Nutzer auch durch das Strahlenschutzfenster sieht
Für weitere Informationen zu diesem Röntgeninspektionssystem stehen Ihnen unsere Vertriebsingenieure zur Verfügung. Nehmen Sie Kontakt zu uns auf. Wir beraten Sie gerne!
